(2)截距的倒数=(1,1,0),则晶面在三个坐标轴 上的截距为(x, y, z)=(1,1,∞)。此晶面平行于 z轴,在a点与x轴相交,在a点与y轴相交,其 方向矢量是[110],如图3所示。
其间Ω是晶格原胞的体积。由此可以仅有地确认相应的倒格子空间。显 然,倒格子与正格子之间有如下联系:
2.假设有一立方晶体,画出以下各晶面 (1)(100);(2)(110);(3)(111);(4)(100); (5)(110);(6)(111)
3.已知Si的晶格常数或单胞的边长a=5.43089 Å, 求: (1)Si的原子体密度。 (2)(111)面、(110)面以及(100)面的原子面密度,比较哪个晶面的面 密度最大?哪个晶面的面密度最小?
其间E0=3eV,晶格常数a=5х10-11m。求: (1)能带宽度; (2)能带底和能带顶的有用质量。 解:(1)由题意得:
2. Si的禁带宽度为1.12 eV。试求将价带电子激发到导带中的光子的
因而,(111)面的原子面密度∶(110)面的原子面密度∶(100)面的原子面
1.关于一个立方晶格: (1)晶面和方向矢量如图2所示,求其密勒指数。 (2)画出晶面为(110)、晶向为(110)的晶面和方向矢量。
解:(1)每个晶胞中有8个原子,晶胞体积为a3, 每个原子所占的空间体积为a3/8,因而每立方
1.如图所示为某半导体资料的价带,试阐明其A、B和C三条价带的载流 子有用质量从大到小的摆放次序并给出理由。
解:从图可知,能带极值邻近的曲率改变最大的是C带,最小的是A带, 因载流子的有用质量与曲率改变成反比,故三条价带的载流子有用质 量从大到小的摆放次序是ABC。
1.掺杂半导体与本证半导体之间有何差异?试举例阐明掺杂对半导体的 导电功能的影响。
2.试简述杂质在半导体中的几种效果,并分别在能带图上标志出其在半 导体中的跃迁进程 3.试阐明浅能级杂质和深能级杂质的物理含义及特色。 4.何谓非平衡载流子?非平衡状况与平衡状况的差异安在
2. 图中的A、B 分别为两种半导体资料价带中载流子的E-k联系抛物 线,其间哪个资料的电子有用质量小?为什么?试确认两种电子的 有用质量之比(以自由电子质量为单位) 。
解:由图可知,B资料的能带极值邻近的曲率改变较大,故其电子 有用质量小。所以,A、B资料的电子有用质量之比为0.26,B资料 的电子有用质量小。